技術(shù)編號(hào)：39622963
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及探針卡，更詳細(xì)而言，涉及具備柔性布線板的探針卡的改進(jìn)。背景技術(shù)、探針卡是在檢查形成于半導(dǎo)體晶片上的半導(dǎo)體器件的電特性時(shí)使用的檢查裝置，在布線基板上設(shè)置有與形成于半導(dǎo)體晶片上的兩個(gè)以上的電極分別接觸的兩個(gè)以上的探針。半導(dǎo)體器件的檢查如下進(jìn)行：使半導(dǎo)體晶片接近探針卡，使探針的前端與半導(dǎo)體晶片上的電極接觸，經(jīng)由探針以及布線基板使測(cè)試器裝置與半導(dǎo)體器件導(dǎo)通。、以往已知有將探針安裝于柔性布線板的探針卡(例如，專利文獻(xiàn))。專利文獻(xiàn)所記載的探針卡的探針安裝于柔性布線板的下表面中央部。該柔性布...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。