技術(shù)編號：40276395
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請屬于芯片生產(chǎn)，更具體地說，是涉及一種雙卡盤測試系統(tǒng)。背景技術(shù)、載片是新工藝生產(chǎn)出的新形態(tài)產(chǎn)品，常見的有堆疊、硅基式、bga封裝式、單片等，具有小型化、高集成度、低成本等優(yōu)點。探針臺是半導(dǎo)體行業(yè)重要的檢測裝備之一，其廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。因為載片測試點即pad點裸露分布在載片表面上，再加上物料一致性和生產(chǎn)工藝的影響，導(dǎo)致最終載片的pad點位置不一致排列不規(guī)則，甚至其pad點的高度也不一致；目前市面上的探針臺主要用于...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。