技術(shù)編號(hào)：40279436
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及液晶屏檢測(cè)，尤其涉及一種基于機(jī)器視覺(jué)的液晶屏缺陷檢測(cè)方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)。背景技術(shù)、隨著液晶顯示技術(shù)的快速發(fā)展，液晶屏幕被廣泛應(yīng)用于各種顯示設(shè)備中。然而，液晶屏的制造過(guò)程復(fù)雜且精密，容易產(chǎn)生各種類(lèi)型的缺陷，如亮點(diǎn)、暗點(diǎn)、色差、漏光等。這些缺陷可能對(duì)產(chǎn)品的最終顯示質(zhì)量產(chǎn)生嚴(yán)重影響，尤其是在高分辨率、大尺寸和高刷新率的顯示需求下，傳統(tǒng)的檢測(cè)方法難以快速、精確地識(shí)別出這些缺陷。、傳統(tǒng)的液晶屏缺陷檢測(cè)方法往往存在以下問(wèn)題：生產(chǎn)線(xiàn)要求快速檢測(cè)，但這可能會(huì)影響檢測(cè)的精度，例如，大尺寸lcd面板...
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