技術(shù)編號(hào)：40279854
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請涉及圖像處理，具體涉及一種ic封裝載板外觀缺陷視覺檢測方法及系統(tǒng)。背景技術(shù)、ic封裝載板作為一種高端pcb板，是芯片封裝環(huán)節(jié)中不可或缺的一部分，相比于傳統(tǒng)pcb板，ic封裝載板的工藝更加復(fù)雜，在制造過程中極易產(chǎn)生各種缺陷，為保障ic封裝載板的質(zhì)量和可靠性，需要對ic封裝載板進(jìn)行外觀缺陷檢測。隨著ic封裝載板制造工藝的發(fā)展，其線寬和線距也隨之變小，為了檢測出ic封裝載板中的微小外觀缺陷，需要使用顯微鏡成像系統(tǒng)采集ic封裝載板圖像，而這會(huì)造成ic封裝載板圖像中金面區(qū)域中的正常紋理、噪聲以及外...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。