技術(shù)編號：40280793
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本公開的實(shí)施例涉及一種用于芯片驗(yàn)證的隨機(jī)激勵(lì)生成方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì)。背景技術(shù)、隨著半導(dǎo)體工藝與應(yīng)用算力需求的不斷提升，芯片設(shè)計(jì)規(guī)模及復(fù)雜度不斷增大，驗(yàn)證工作需要與設(shè)計(jì)相匹配，隨之導(dǎo)致的驗(yàn)證環(huán)境規(guī)模也與日俱增，所需求的驗(yàn)證場景也越來越復(fù)雜。、對于目前常見的諸如復(fù)雜系統(tǒng)級芯片(system?on?chip，soc)的芯片設(shè)計(jì)規(guī)格而言，芯片外設(shè)接口通常會(huì)包含pcie(peripheral?component?interconnect?express，外設(shè)組件互連快速總線，其是一種高速串行計(jì)...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。