技術編號：40281249
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬于半導體測試，尤其涉及一種半導體的高頻測試向量波形的產生方法及系統(tǒng)。背景技術、相關技術中，半導體測試中往往有產生高頻變化的數字波形digital?pattern，也叫測試向量波形，現有的技術方案往往是利用高頻時鐘產生，但有如下缺點：、高頻時鐘往往有上限，比如一般的fpga中鎖相環(huán)不超過mhz；、由于數字電路功耗與頻率成正比，容易產生高功耗；、同時高頻信號由于高頻特性，信號很容易通過周邊的雜散分布電容對周圍的電路造成干擾，從而影響信號完整性。技術實現思路、鑒于以上現有技術的...
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