技術(shù)編號：40282374
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及計算機(jī)視覺領(lǐng)域，具體涉及一種圖像處理方法、裝置、設(shè)備及產(chǎn)品。背景技術(shù)、在晶圓檢測時，為了確定晶圓上存在的缺陷，需要將待檢測圖像與標(biāo)準(zhǔn)的模板圖像進(jìn)行比對以此獲取待檢測圖像中的缺陷。但是若模板圖像中并非只有缺陷檢測所需的關(guān)鍵位置信息，還存在著影響到缺陷檢測精度的無關(guān)信息，那么在后續(xù)的缺陷檢測時必然會影響到缺陷檢測結(jié)果。、因此，如何盡可能地保留關(guān)鍵位置信息并去除掉無關(guān)信息是目前業(yè)界亟待解決的技術(shù)問題。技術(shù)實現(xiàn)思路、有鑒于此，本發(fā)明實施例提供了一種圖像處理方法、裝置、設(shè)備及產(chǎn)品，以解決目...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。