技術(shù)編號：40282682
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及集成電路測試領(lǐng)域，尤其涉及一種基于sugiyama算法對測試項排序的方法。背景技術(shù)、在半導(dǎo)體制造與測試領(lǐng)域，自動測試設(shè)備(ate)對于確保集成電路和半導(dǎo)體器件的功能與性能至關(guān)重要。隨著集成電路復(fù)雜度的提升，測試流程也變得更為復(fù)雜和多變。為提升編寫測試工程的效率和準(zhǔn)確性，測試工程師需要對測試項進行合理排序，以縮短編寫時間并提高問題定位的效率。、目前采用的測試項排序方法主要有以下兩種：、測試工程師手動排序：依賴工程師的經(jīng)驗和對被測設(shè)備的理解進行排序，考慮因素包括測試項優(yōu)先級、資源分配...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
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