技術(shù)編號：40283970
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及光學(xué)測定裝置、光學(xué)測定系統(tǒng)以及光學(xué)測定方法。背景技術(shù)、當前已知如下技術(shù)，即，通過光學(xué)方法以非接觸的方式測定包含流體等在內(nèi)的試樣的物性參數(shù)。、例如，在專利文獻中公開了如下過渡吸收測定方法以及過渡吸收測定裝置，其能夠以簡單的構(gòu)造在包含納秒～納秒的時間區(qū)域在內(nèi)的較大幅度的時間區(qū)域中，在短時間內(nèi)測定多個時刻的過渡吸收特性。例如，在專利文獻中公開了如下溫度測定裝置，即，通過測定激勵狀態(tài)的壽命，能夠非接觸且高精度地測定化學(xué)反應(yīng)系統(tǒng)中包含的物質(zhì)的溫度。、專利文獻：日本特開-...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。