技術(shù)編號(hào)：40352610
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于氣體折射率測量，具體涉及一種氣體折射率空間分布測量裝置。背景技術(shù)、氣體折射率是光學(xué)測量中重要的物理量之一，也是測量其它與折射率關(guān)聯(lián)的物理量的基礎(chǔ)，如氣壓測量等應(yīng)用場景，在精密測量中具有重要意義。、目前，基于光學(xué)干涉現(xiàn)象對(duì)氣體折射率進(jìn)行測量的裝置，測量結(jié)果往往是待測區(qū)域內(nèi)氣體折射率積分的均值，即默認(rèn)了被測區(qū)域內(nèi)氣體是均勻的。當(dāng)待測區(qū)域內(nèi)由于動(dòng)態(tài)氣壓導(dǎo)致內(nèi)部介質(zhì)的光學(xué)折射率存在梯度分布時(shí)，該類儀器往往難以測量折射率的空間分布情況(場)。技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路、本發(fā)明的目的是提供一種氣體折射率空...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。