技術(shù)編號:40385226
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請的實(shí)施例涉及半導(dǎo)體器件及其制造方法。背景技術(shù)、半導(dǎo)體集成電路(ic)工業(yè)經(jīng)歷了指數(shù)級增長。ic材料和設(shè)計(jì)中的技術(shù)進(jìn)步已經(jīng)產(chǎn)生了多代ic,其中每一代都具有比上一代更小且更復(fù)雜的電路。在ic發(fā)展的過程中,功能密度(即,每芯片區(qū)的互連器件的數(shù)量)普遍增大,而幾何尺寸(即,可以使用制造工藝創(chuàng)建的最小組件(或線))已經(jīng)減小。這種縮小工藝通常通過提高生產(chǎn)效率和降低相關(guān)成本來提供益處。這樣的縮小也增加了處理和制造ic的復(fù)雜性。、例如,隨著ic技術(shù)朝著更小的節(jié)點(diǎn)發(fā)展,已經(jīng)引入了多柵極金屬氧化物半導(dǎo)體場...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。