技術(shù)編號(hào)：40385496
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于存儲(chǔ)模塊性能測(cè)試，涉及存儲(chǔ)模塊的高溫測(cè)試技術(shù)，具體為存儲(chǔ)模塊溫度控制系統(tǒng)及方法。背景技術(shù)、存儲(chǔ)模塊是用來(lái)存儲(chǔ)程序和各種數(shù)據(jù)信息的記憶部件，其是許多存儲(chǔ)單元的集合，各存儲(chǔ)單元按照順序排列，每個(gè)存儲(chǔ)單元由若干二進(jìn)制位構(gòu)成，以表示存儲(chǔ)單元中存放的數(shù)據(jù)。、存儲(chǔ)模塊在生產(chǎn)完成后要對(duì)其進(jìn)行性能測(cè)試，以測(cè)試其是否存在生產(chǎn)不良。其中，高溫測(cè)試也是存儲(chǔ)模塊的性能測(cè)試中重要的測(cè)試項(xiàng)之一，其目的是為了確保存儲(chǔ)模塊在高溫環(huán)境中使用的可靠性?，F(xiàn)有技術(shù)中，存儲(chǔ)模塊的高溫測(cè)試過(guò)程為：將存儲(chǔ)模塊置于溫控設(shè)備中，采...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
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