技術編號：40388435
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及鍵合金絲檢測相關，具體為一種先進封裝的超細鍵合金絲及用該超細鍵合金絲檢測裝置。背景技術、集成電路和半導體元器件的使用越來越廣泛，其中對于集成電路和半導體元器件的鍵合絲的運用也是越來越多。鍵合金絲在生產完成后，需要對鍵合金絲進行多項質量檢測，其中包括拉力測試。、目前，現(xiàn)有的鍵合金絲用檢測裝置在對芯片上的金絲進行檢測時，需要工作人員多次移動芯片的位置并對其固定，然后通過上方的檢測裝置對芯片上的金絲進行拉力檢測，這種檢測方式對于工作人員的操作較為復雜，而且人為移動芯片容易導致檢測位置不夠...
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