技術(shù)編號：40398074
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本技術(shù)涉及硅片檢測，具體為一種硅片隱裂視覺檢測裝置。背景技術(shù)、晶硅太陽能電池技術(shù)在光伏發(fā)電領(lǐng)域是占據(jù)著絕對優(yōu)勢的主流技術(shù)，晶硅太陽能電池片主要由太陽能等級硅片組成。、為保證晶硅太陽能電池片轉(zhuǎn)換效率滿足技術(shù)指標(biāo)，在生產(chǎn)過程中硅片的幾何參數(shù)、電學(xué)參數(shù)、內(nèi)部缺陷等各種參數(shù)都要經(jīng)過測試并分選以滿足太陽能工業(yè)或者客戶的技術(shù)指標(biāo)。以上各指標(biāo)里硅片內(nèi)部缺陷中的硅片隱裂檢測誤判率很高，會把很多非隱裂硅片誤判為隱裂片，而且數(shù)量比較多，大大降低了硅片出廠良片率。、硅片生產(chǎn)廠家目前的解決方式是把所有設(shè)備分選下來...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。