技術(shù)編號(hào)：40405961
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電子負(fù)載，特別是涉及一種電子負(fù)載電路及其帶載能力測(cè)試方法。背景技術(shù)、電子負(fù)載在電源測(cè)試、電子元器件測(cè)試以及半導(dǎo)體器件測(cè)試中起著至關(guān)重要的作用。它們通過模擬實(shí)際工作條件下的負(fù)載，幫助驗(yàn)證電源設(shè)備和電子元器件的性能、穩(wěn)定性和可靠性。然而，現(xiàn)有的電子負(fù)載設(shè)備存在一些顯著的問題。、傳統(tǒng)的電子負(fù)載設(shè)備通常采用高精度控制電路和高性能元器件，價(jià)格昂貴。這對(duì)于研發(fā)預(yù)算有限的單位來說，構(gòu)成了一定的經(jīng)濟(jì)壓力，限制了其在研發(fā)和測(cè)試過程中的應(yīng)用。、此外，現(xiàn)有電子負(fù)載設(shè)備的結(jié)構(gòu)往往比較復(fù)雜。這種復(fù)雜性不僅...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。