技術(shù)編號：4079072
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明描述了一種用于在進(jìn)行表面涂覆之前檢測該表面上的污染的方法，所述方法包括使標(biāo)記物與表面接觸，其中標(biāo)記物具有在表面上的污染區(qū)域處積聚的能力；以及檢測表面上的標(biāo)記物，其中標(biāo)記物是非極性的或兩親性的。專利說明 [0001] 本發(fā)明涉及一種用于在進(jìn)行表面涂覆之前檢測該表面的污染的方法。 污染區(qū)域的檢測 背景技術(shù) [0002] 目前有多種涉及檢測表面上的污物或?qū)Υ祟惐砻娴奈廴境潭榷康姆椒?。例如?US5828460中公開了一種用于在對金屬表面進(jìn)行后續(xù)...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。