技術(shù)編號：5389190
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本申請請求保護的內(nèi)容為以美國臨時申請?zhí)枮?0/054,293，申請日為1997年7月31日的申請中的內(nèi)容(代理備案號為20.2676)。本發(fā)明總體涉及地層孔隙率的測量，尤其涉及根據(jù)環(huán)境因素的影響而補償下套管的鉆孔中所得到的孔隙率測量結(jié)果，包括水泥的厚度。在確定地下地質(zhì)層的特征而在科技和工藝上的改進方面，已經(jīng)產(chǎn)生了一些先進的研究碳氫化合物地層的方法。一般地，測井井下儀穿過由相關(guān)地質(zhì)層所包圍的井孔。放置于測井井下儀上的放射源輻射地層。在測井井下儀上距中子源必要...
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