技術(shù)編號(hào):5821766
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。各示例實(shí)施例涉及在半導(dǎo)體器件中檢測(cè)通電和斷電的方法和電路。 背景技術(shù)因?yàn)殡娮酉到y(tǒng)不斷地變得更小,所以有關(guān)減少由半導(dǎo)體器件耗散的功率 的研究已經(jīng)增加。例如,半導(dǎo)體器件中的各等待電路塊可依賴于操作模式斷 電,以便降低功耗。在斷電狀態(tài)中,電路塊不完全斷電,但是關(guān)閉包括在該 電路塊中的電流源以減少漏電流。通電時(shí)間和斷電時(shí)間可包括在半導(dǎo)體存儲(chǔ)器器件的測(cè)試說(shuō)明書(shū)中。 在檢測(cè)通電或斷電的傳統(tǒng)方法中,通過(guò)測(cè)量流過(guò)電路的平均電流確定該 電路進(jìn)入斷電模式還是退出斷電模式。因?yàn)?..
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。