技術(shù)編號：5827157
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型屬于芯片測試領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片老化測試系統(tǒng)。技術(shù)背景在芯片的使用過程中，例如LCD驅(qū)動芯片(也稱為LCD Driver)等，由 于該種芯片需要不斷地經(jīng)歷上電和掉電的狀態(tài)更替，久而久之，會使芯片老化， 從而發(fā)生失效等后果。為了測試芯片能夠承受的上電和掉電的沖擊次數(shù)，以得 到芯片的使用壽命，有必要提供一種能夠讓芯片快速進(jìn)行上電和掉電沖擊(間 隔時間為幾秒)的測試系統(tǒng)，為芯片老化測試提供一個讓芯片快速老化的測試 環(huán)境，從而測試出芯片的老化性能。實用...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。