技術(shù)編號(hào):5835067
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明是一種固態(tài)功率開(kāi)關(guān)的檢測(cè)方法,它可用于機(jī)電控制系統(tǒng)和固態(tài)功 率控制器。 背景技術(shù)在當(dāng)前的機(jī)電控制系統(tǒng)和固態(tài)功率控制器中,功率控制開(kāi)關(guān)一般采用機(jī)械 式電磁繼電器、斷路器,或采用固態(tài)功率開(kāi)關(guān)如可控硅SCR(Silicon Controlled Rectifier)、金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)晶體管M0SFET (Metal-Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)、可關(guān)斷可控硅GT0(Gate Turn-Off T...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
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