技術(shù)編號：5835855
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于光學(xué)輻射度測量領(lǐng)域，涉及一種電替代絕對輻射計，特別涉及一種用于衛(wèi)星上 測量太陽輻射的輻射探測芯片。技術(shù)背景絕對輻射計的測量原理是利用光電等效性，把照射到絕對輻射計上的未知輻射照度的熱效 應(yīng)同已知電功率(測定加熱電流強(qiáng)度和電壓)的熱效應(yīng)進(jìn)行比較，使加熱的電功率等效于接 收的輻射功率，用電功率再現(xiàn)的方法標(biāo)定輻射標(biāo)度。絕對輻射計的一個主要應(yīng)用是在航天器 上監(jiān)測太陽總輻照度變化。目前，絕對輻射計主要是采用雙錐腔電替代補(bǔ)償型，如長春光機(jī)所研制的SIARs太...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。