技術(shù)編號：5863742
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本公開內(nèi)容涉及存儲設(shè)備仿真器及測試存儲設(shè)備測試系統(tǒng)的測試槽的方法。 背景技術(shù)為了符合一組要求，磁盤驅(qū)動器制造商通常會測試制造出的磁盤驅(qū)動器。存在順 序或并行測試大量磁盤驅(qū)動器的測試設(shè)備和技術(shù)。制造商傾向于同時(shí)或批量測試大量磁盤 驅(qū)動器。磁盤驅(qū)動器的測試系統(tǒng)通常包括具有多個(gè)測試槽的一個(gè)或多個(gè)機(jī)架，測試槽接納 待測試的磁盤驅(qū)動器。緊鄰磁盤驅(qū)動器周圍的測試環(huán)境被精密地調(diào)節(jié)。具有更高容量、更快轉(zhuǎn)速和更小 磁頭空隙的最新一代磁盤驅(qū)動器對振動更為敏感。過大的振動會影響...
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