技術(shù)編號(hào)：5866889
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及集成電路測(cè)試領(lǐng)域，特別涉及一種測(cè)試座連接板。 背景技術(shù)集成電路產(chǎn)品的測(cè)試通常需要使用對(duì)應(yīng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)(tester)和測(cè)試板(DUT板)， 例如用于功能測(cè)試(function test, FT)的測(cè)試板等。FT測(cè)試是檢驗(yàn)集成電路產(chǎn)品的功 能是否完好的必不可少的一個(gè)環(huán)節(jié)。通常測(cè)試板上連接有用于放置待測(cè)試芯片的測(cè)試座 (socket)，測(cè)試機(jī)臺(tái)提供的外部測(cè)試信號(hào)通過(guò)測(cè)試板送到測(cè)試座的引腳，進(jìn)而對(duì)待測(cè)試芯 片進(jìn)行測(cè)試?，F(xiàn)有技術(shù)存在如下幾方面的缺點(diǎn)對(duì)不同類...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。