技術編號：5869915
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及磁光光譜探測，尤其涉及一種多功能反射式磁光光譜探測系統(tǒng)。背景技術由于很多物質存在法拉第效應與克爾效應，因此磁光光譜探測系統(tǒng)具有廣泛的應 用如生物學中觀察分子的光學性質、半導體/金屬材料的能帶研究、光通信中的偏振調制 研究等。反射式磁光光譜測量系統(tǒng)與透射式測量系統(tǒng)相比，能對不透明的樣品進行測量，并 且配置結構靈活，因此適用場合更廣。MCD全稱為磁圓二向色性，即在磁場下，物質對左旋圓偏振光與右旋圓偏振光的吸 收率不同的現象?？藸栃侵冈诖艌鱿?，垂直...
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