技術(shù)編號(hào)：5872618
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種微米尺度應(yīng)變分量測(cè)量的技術(shù)。 背景技術(shù)近年來(lái)隨著微、納領(lǐng)域科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，有關(guān)微、納尺度下材料與器件力學(xué)性能的 研究已經(jīng)成為多學(xué)科所共同關(guān)注的前沿領(lǐng)域。同時(shí)，微、納領(lǐng)域科學(xué)技術(shù)也提出了許多新的 力學(xué)問(wèn)題。在這一新領(lǐng)域的探究中，實(shí)驗(yàn)承擔(dān)著重要的基礎(chǔ)與工具作用。但是目前傳統(tǒng)實(shí) 驗(yàn)力學(xué)手段難以實(shí)現(xiàn)微米尺度點(diǎn)的應(yīng)變分量測(cè)量，特別是剪應(yīng)變分量測(cè)量；而顯微電鏡等 新技術(shù)還未能解決一系列有關(guān)力學(xué)參量的加載與測(cè)量問(wèn)題。因此，開(kāi)展微、納尺度下有關(guān) 力學(xué)參量的傳...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。