技術(shù)編號(hào)：5882588
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種激光毀傷硅基探測(cè)器的測(cè)量方法和裝置，可以用于光電測(cè)試，應(yīng)用領(lǐng)域包括探測(cè)器的研制、激光加工和科學(xué)研究等領(lǐng)域。背景技術(shù)光電探測(cè)器是光電檢測(cè)系統(tǒng)的核心部件，廣泛的應(yīng)用于軍事、工業(yè)、醫(yī)療等各領(lǐng)域。在一些特殊的場(chǎng)合，光電傳感器經(jīng)常要與激光光源配合使用，因而不可避免地存在激光對(duì)光電傳感器的破壞問題。探測(cè)器被強(qiáng)激光損傷后，性能會(huì)發(fā)生改變，表現(xiàn)為響應(yīng)度下降， 暗電流上升。國(guó)內(nèi)外學(xué)者對(duì)于強(qiáng)激光輻照探測(cè)器進(jìn)行了大量的理論和實(shí)驗(yàn)工作，主要側(cè)重于激光輻照探測(cè)器的損傷...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。