技術(shù)編號(hào)：5900257
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。電極探測(cè)裝置[0001]本實(shí)用新型涉及電學(xué)測(cè)試技術(shù)的裝置，尤其涉及一種電極探測(cè)裝置。技術(shù)背景[0002]在半導(dǎo)體行業(yè)及光電行業(yè)中，經(jīng)常需要使用探針臺(tái)對(duì)薄膜樣品進(jìn)行光電、鐵 電、介電、壓電或熱釋電等性能測(cè)試，被測(cè)薄膜樣品在測(cè)試前需鍍上電極，操作者通過(guò) 用探針臺(tái)的測(cè)試探針接觸被測(cè)薄膜樣品上的電極來(lái)進(jìn)行測(cè)試。由于被測(cè)薄膜樣品上的電 極面積都較小，因此當(dāng)電極的顏色與被測(cè)薄膜樣品的顏色相近時(shí)，操作者很難準(zhǔn)確的找 到電極，既影響測(cè)試精度，又會(huì)給測(cè)試操作帶來(lái)不便。[00...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。