技術(shù)編號(hào)：5900932
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種晶片測試機(jī)的分料機(jī)構(gòu)。 背景技術(shù)現(xiàn)有技術(shù)中，為確保每一晶片在出廠時(shí)的品質(zhì)均能合乎客戶的要求，每一晶片在 出廠前均需經(jīng)過晶片測試程序，以便將等級(jí)不同(如依誤差值的大小或穩(wěn)定性的高低作分 級(jí))將晶片加以分級(jí)收集，而使每一批出貨晶片的品質(zhì)相同且符合客戶的需求。而為求晶 片分級(jí)收集的動(dòng)作可快速有效率地進(jìn)行，現(xiàn)今已采用自動(dòng)化作業(yè)的晶片測試機(jī)來進(jìn)行晶片 的分級(jí)與收集動(dòng)作，而由晶片測試機(jī)的電子探針與晶片接觸后測量其反應(yīng)，再經(jīng)判別加以 分級(jí)，并于晶片通過...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。