技術(shù)編號：5914556
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種用于芯片老化測試的裝置，特別是關(guān)于一種能夠保護(hù)被測芯片的用于芯片老化測試的裝置。背景技術(shù)芯片老化測試是一種采用外加電壓和高溫來加速器件電學(xué)故障的電應(yīng)力測試方法。老化過程基本上模擬運(yùn)行了芯片整個壽命，因?yàn)槔匣^程中應(yīng)用的電激勵反映了芯片工作的最壞情況。根據(jù)不同的老化時間，所得資料的可靠性可能涉及到的器件的早期壽命或磨損程度。老化測試可以用來作為器件可靠性的檢測或作為生產(chǎn)窗口來發(fā)現(xiàn)器件的早期故障。老化通常是為樣品提供例如是70 125攝氏度的...
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