技術(shù)編號(hào)：5921911
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種用于超聲掃描顯微鏡批量掃描產(chǎn)品用的輔助夾具。 背景技術(shù)C-SAM即超聲掃描顯微鏡，是業(yè)內(nèi)很重要的一種無損檢測(cè)方法。超聲波有沿直線傳播，在不同物質(zhì)界面處產(chǎn)生反射以及穿透信號(hào)，與遇到空氣全反射的特性，對(duì)樣品進(jìn)行無損害檢驗(yàn)。超聲波在電子元器件封裝內(nèi)部傳遞時(shí)，遇到空洞，剝離，脫層等異常點(diǎn)或區(qū)域，會(huì)產(chǎn)生全反射現(xiàn)象，該反射訊號(hào)會(huì)與超聲波正常接收質(zhì)界面的反射訊號(hào)明顯不同。C-SAM機(jī)臺(tái)正是利用這種原理，對(duì)半導(dǎo)體元器件的封裝質(zhì)量，進(jìn)行測(cè)試與評(píng)估，是目前半...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。