技術編號:5932418
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型涉及測具結構設計領域,特別涉及了一種整體葉盤葉片型面余量測量的裝置。背景技術對于大批量的葉片型面余量厚度進行有效的測量及監(jiān)控,傳統(tǒng)的三坐標測量機效率很低,為了提高測量效率,需要合理的測量裝置實用新型內容 本實用新型的目的是為了提高測量效率,特提供了一種整體葉盤葉片型面余量測量的裝置。本實用新型提供了一種整體葉盤葉片型面余量測量的裝置,其特征在干所述的整體葉盤葉片型面余量測量的裝置包括定位環(huán)I,定位支架2,底座3,定位板4,支架5,活動支架6,活動...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。