技術(shù)編號：5936094
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及一種半導(dǎo)體測試系統(tǒng)，具體是指一種半導(dǎo)體分立器件的測試系統(tǒng)。背景技術(shù)傳統(tǒng)使用的測試機在測試主控部分采用的是E四象限電壓電流源結(jié)構(gòu)，系統(tǒng)響應(yīng)速度較慢，輸出延遲時間較長，偶爾還會出現(xiàn)震蕩；Force Current & Force Voltage采用14 bit的DAC設(shè)計，在Force和對微小漏電流測量的精度上顯示不足；系統(tǒng)采用一到兩塊大板結(jié)構(gòu)，將高、低壓分成不同的通道集成于一板，不便于維護(hù)，在某一種測試中，只能有一 塊板出高壓或低壓，不...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。