技術(shù)編號：5945932
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及光學偏振器件參數(shù)測量方法，屬于光學測量，尤其涉及一種基于干涉法光學保偏器件偏振消光比的測試裝置和測試方法。背景技術(shù)消光比是度量偏振器件(如保偏光纖、保偏光纖耦合器、偏振器、棱鏡、晶體)保持偏振態(tài)穩(wěn)定性能的重要指標。當一束線偏振光沿偏振器件某一主軸入射時，由于偏振器件內(nèi)部殘留有應(yīng)力，或熱不均勻引起的應(yīng)力，以及制造工藝的不完善導(dǎo)致光學偏振器件幾何形狀的不完全理想，會使本來屬于各向同性物質(zhì)出現(xiàn)雙折射，表現(xiàn)出各向異性。因此，在這些點上，在與偏振主軸正交的...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。