技術(shù)編號：5948032
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。一種快速測量流體折射率的流體折射率探測器，特別是涉及一種基于二維光子晶體負折射效應(yīng)的流體折射率探 測器。背景技術(shù)光子晶體的概念最早是在1987年提出的。光子晶體是一種按照晶體的結(jié)構(gòu)對稱性制備的周期性微介電結(jié)構(gòu)材料，其最基本的特性就是具有光子禁帶。頻率在光子禁帶頻率內(nèi)的光不能在光子晶體中傳播。負折射現(xiàn)象是俄國科學(xué)家Veselago在1968年提出的當(dāng)光波從具有正折射率的材料入射到具有負折射率材料的界面時，光波的折射與常規(guī)折射相反，入射波和折射波處于界面法線方...
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