技術(shù)編號(hào):5950284
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種檢測(cè)裝置,尤其是涉及一種用于采集產(chǎn)品不同部位的電磁泄露量的檢測(cè)裝置。背景技術(shù)近場(chǎng)探測(cè),就是一種借助近場(chǎng)探頭,靠近被測(cè)物體吸收產(chǎn)品不同部位的電磁輻射。對(duì)于大型的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室,一般是綜合性的測(cè)試裝置,按相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的一種檢測(cè),如果產(chǎn)品不能通過相關(guān)測(cè)試,則不能反應(yīng)出產(chǎn)品的那個(gè)部位或部件出現(xiàn)大的泄露,而無法有針對(duì)性的改善與處理。而現(xiàn)在大多數(shù)電磁兼容測(cè)試儀器,只是提供一只探頭和測(cè)試儀器的使用方法,并沒有對(duì)測(cè)試的具體位置提出要求,所以在作近場(chǎng)探測(cè)過程中...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。