技術編號：5952700
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬于光學測量，具體涉及的是一種非球面的絕對檢測方法。背景技術隨著現(xiàn)代光學的不斷發(fā)展，非球面的應用是越來越廣泛。而在非球面的檢測中，大多采用相對測量的方式，即測量結果中包括系統(tǒng)誤差和參考面的誤差。若想獲得非球面的更準確的面形信息，需采用絕對檢測。非球面的絕對檢測，即通過一定的方法去除系統(tǒng)誤差和參考面誤差對測量結果的影響，讓測量結果中只包括非球面的誤差信息。目前，用于非球面的絕對檢測的方法比較少，其測量步驟和數(shù)據(jù)處理都比較復雜。其中，德國 Erlange...
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