技術(shù)編號(hào)：5958870
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體器件的可靠性測試與環(huán)境應(yīng)力篩選設(shè)備，尤其適用例如衛(wèi)星紅外探測器等的低溫半導(dǎo)體器件可靠性測試。溫度范圍為-173℃以下到300℃。背景技術(shù)由于斯特林制冷機(jī)的壽命問題，在某些情況下衛(wèi)星紅外探測器采用了間歇式工作方式，因此它們在太空中會(huì)經(jīng)受從常溫(20℃左右)到低溫(≤-173℃)的成千上萬次的溫度循環(huán)。為此，必須在地面上先進(jìn)行可靠性驗(yàn)證，大量工程實(shí)踐證明，溫度循環(huán)是環(huán)境應(yīng)力篩選中最有效的篩選模式，它所激發(fā)的故障數(shù)占環(huán)境應(yīng)力篩選總故障數(shù)的一半...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。