技術(shù)編號：5964261
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種檢測用支架，特別是一種用來檢查多晶硅加工后的質(zhì)量、性能的太陽能板檢測支架。背景技術(shù)在對太陽能多晶硅片的拼裝后，通常需要對整個多晶硅片組進(jìn)行各個方面的裝配檢查，目前都是通過在普通環(huán)境下進(jìn)行一般的目測檢查，因此往往會由于環(huán)境光照度的不同而容易造成錯檢、漏檢等，使得有缺陷的產(chǎn)品交付了客戶，對企業(yè)的信譽(yù)產(chǎn)生一定的影響，造成多晶娃片的質(zhì)量不穩(wěn)定等。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是為了解決上述技術(shù)的不足而提供一種能對多晶硅片組件在特定的光照度下進(jìn)行方便檢查的太陽能...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。