技術(shù)編號：5966316
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于光電子學(xué)，涉及一種對測量液晶器件參數(shù)裝置及方法的改進(jìn)。已有技術(shù)測量液晶器件參數(shù)的裝置，它的測量光學(xué)系統(tǒng)采用偏振光測量系統(tǒng)，或者采用非偏振光測量系統(tǒng)。已有測量液晶器件參數(shù)的裝置，存在以下問題1、采用偏振光測量系統(tǒng)的裝置，不能測量液晶器件視角等參數(shù)。2、采用非偏振光測量系統(tǒng)的裝置，不能測量液晶器件的預(yù)傾角、扭曲角等參數(shù)。3、采用單色光的測量系統(tǒng)不能測量材料的光譜透過率、反射率和色度參數(shù)；采用白光的測量系統(tǒng)不能測量液晶分子預(yù)傾角和扭曲角等參數(shù)。4、采用...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。