技術(shù)編號(hào)：6008640
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體元件的測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種電容DC模型中寄生電容的測(cè)量方法。背景技術(shù)形成于半導(dǎo)體基板上的集成電路包括多個(gè)有源和無源元件，例如電阻器、電感器、 電容器、晶體管、放大器等。上述元件是依照設(shè)計(jì)規(guī)格(design specification)而制造，其中設(shè)計(jì)規(guī)格定義上述元件所表現(xiàn)的電學(xué)特性(如電阻值、電感值、電容值、增益等)和結(jié)構(gòu)特征。一般而言，希望能夠確認(rèn)每一個(gè)制造的元件是否符合其特定的設(shè)計(jì)規(guī)格，然而，在元件整合進(jìn)集成電路后，個(gè)別的元件通常無法...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。