技術(shù)編號(hào)：6015228
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及液晶顯示器制造領(lǐng)域,尤其涉及ー種TFT (Thin Film Tansistor,薄膜場效應(yīng)晶體管)陣列基板檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置。背景技術(shù)在TFT陣列基板的檢測(cè)エ藝過程中，檢測(cè)設(shè)備需要通過探針將檢測(cè)信號(hào)加入到TFT陣列基板上，給像素電極充電，然后通過調(diào)節(jié)器(Modulator)模擬液晶顯示器的顯示原理進(jìn)行檢測(cè)。在對(duì)像素電極充電完成之后，檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)像素電極的電壓大小，并將像素電極上的電壓值與預(yù)先設(shè)置各種不良的電壓值進(jìn)行比對(duì)，從而確定TFT陣列基板的...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。