技術(shù)編號(hào):6020899
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明是有關(guān)用于諸如集成電路的平板狀被檢查體的通電試驗(yàn)的探針。背景技術(shù) 半導(dǎo)體集成電路等平板狀被檢查體,為確認(rèn)其是否依照設(shè)計(jì)規(guī)范書(shū)而制造,需要進(jìn)行通電試驗(yàn)。這種通電試驗(yàn),是使用具備在被檢查體的各個(gè)電極按壓的多個(gè)探針的探針卡(probe card)、探針塊(probe block)、以及探針單元(probe unit)等電氣連接裝置進(jìn)行。該種電氣連接裝置,用于將被檢查體的電極與檢測(cè)器予以電氣連接。作為這種電氣連接裝置所使用的探針,具有由導(dǎo)電性金屬細(xì)線制造的針...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。