技術(shù)編號(hào)：6021917
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于微波、毫米波介電材料介電性能測(cè)試領(lǐng)域，涉及準(zhǔn)光學(xué)腔測(cè)量方法及直O(jiān)背景技術(shù)隨著通訊系統(tǒng)、武器精確制導(dǎo)和電子對(duì)抗技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用，準(zhǔn)確了解電路介質(zhì)基片材料、天線罩材料的介電性能越來(lái)越重要。當(dāng)這些材料的工作溫度發(fā)生變化時(shí)，它們的介電性能也會(huì)發(fā)生相應(yīng)的變化。因此，了解材料在不同工作溫度下的介電性能，對(duì)材料的應(yīng)用與設(shè)計(jì)具有重大意義！針對(duì)介質(zhì)材料在微波、毫米波段的介電性能測(cè)試，應(yīng)用比較廣泛的測(cè)量方法是準(zhǔn)光學(xué)諧振腔測(cè)試法。目前普遍使用的準(zhǔn)光學(xué)諧振腔的結(jié)構(gòu)形式是...
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