技術(shù)編號：6024980
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種電子束輻照劑量測定技術(shù)，尤其是一種用于測量產(chǎn)品輻照最佳深度的方法及其劑量計，具體地說是一種電子束輻射有效射程的測定方法及帶狀劑量計。背景技術(shù)眾所周知，電子束輻射加工具有輻射功率大、劑量率高、加工速度快、成本低等優(yōu)點，近年來在國內(nèi)外發(fā)展很快。據(jù)不完全統(tǒng)計，目前我國電子加速器已增至200多臺，而且還呈快速增長趨勢。隨著電子束輻射加工業(yè)的迅猛發(fā)展，迫切需要一套適用于電子束劑量測量的劑量測量系統(tǒng)。目前可進(jìn)行電子束輻照劑量定量測定的方法有量熱法、電子束...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。