技術(shù)編號(hào):6028030
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種儀器分析樣品臺(tái),尤其是一種XRD (X射線衍射儀)簡(jiǎn)易片狀樣品臺(tái)。背景技術(shù)目前X射線粉末衍射儀如布魯克DS-Advance系列衍射儀及其它品牌的衍射儀是利用測(cè)角儀樣品架上的三個(gè)觸點(diǎn)接觸樣品臺(tái)基準(zhǔn)平面,從而確定樣品測(cè)試面,測(cè)試過(guò)程中樣品臺(tái)不轉(zhuǎn)動(dòng)。廠家提供的淺槽樣品臺(tái)和微量樣品臺(tái)均為測(cè)試粉末的樣品臺(tái),對(duì)紙張、金屬片等固體片狀樣品很難準(zhǔn)確測(cè)試,為此,很多儀器使用者都在自己開發(fā)制作固體塊狀、片狀樣品臺(tái)。中國(guó)專利200720174416.0通過(guò)在傳...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。