技術(shù)編號(hào):6030559
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種在透射電子顯樣i鏡中原位測(cè)量納米材料力電性能的裝置 及方法,更具體的應(yīng)力狀態(tài)下單體納米材料原位實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)的力學(xué)-電學(xué)-顯微 結(jié)構(gòu)相關(guān)性測(cè)量的裝置與方法。背景技術(shù)透射電子顯微鏡在納米科學(xué)和是最為有力的研究工具之一。透 射電子顯微鏡的樣品桿是用來(lái)支撐被檢測(cè)樣品的。納米尺度的材料作為器件 的基本結(jié)構(gòu)單元,承載著信息傳輸,存儲(chǔ)等重要功能。在半導(dǎo)體及信息工業(yè) 中應(yīng)用到的納米功能材料,在應(yīng)力場(chǎng)與電場(chǎng)的作用下,研究其微結(jié)構(gòu)和尺寸 效應(yīng)對(duì)器件單元內(nèi)納米材料力學(xué)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。