技術編號：6030603
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。一種粒子分類方法及粒子檢測裝置本發(fā)明涉及一種粒子檢測儀，尤其涉及粒子分類方法及粒子檢測裝置，用于對各種粒子進行分類。背景技術粒子檢測儀通過收集關于樣本中粒子的兩種或兩種以上的特征，并將這兩種或兩 種以上的特征標志為二維或二維以上的向量，選擇其中的兩種或三種特征映射到二維或三 維直角坐標系中，將樣本中所有的粒子映射到坐標系中得到一幅粒子分布散點圖。正常情 況下，由于同種粒子在這些特征方面的相似以及不同種類的粒子在這些特征方面存在差 異，因此在散點圖上同類粒子...
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