技術編號：6036561
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及測量技術，更詳細的是一種動態(tài)光散射測量納米顆粒粒徑的方法。本發(fā)明還涉及實現(xiàn)該動態(tài)光散射測量納米顆粒粒徑的方法的裝置。背景技術 目前，對納米微粒顆粒度及其分布的分析技術有多種。雖然透射電鏡觀察法是一種顆粒度觀察測定的絕對方法，具有可靠性和直觀性，但是該方法的測量結果缺乏統(tǒng)計性，不能代表整體顆粒的粒徑范圍；X射線衍射線寬法測量的結果是顆粒的晶粒度，此測量方法只適用于晶態(tài)的納米粒子晶粒度的評估，且測量范圍狹小，只在50納米內；比表面積法測量時由于顆粒的...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。