技術(shù)編號(hào)：6043465
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種層析卡檢測(cè)儀的光路結(jié)構(gòu)，包括光源光路和信號(hào)光光路，激發(fā)光光源產(chǎn)生激發(fā)光束，激發(fā)光束依次經(jīng)過分光片和柱面透鏡組件到達(dá)檢測(cè)區(qū)構(gòu)成光源光路，激發(fā)光束聚焦照射在檢測(cè)區(qū)產(chǎn)生信號(hào)光，信號(hào)光依次經(jīng)過柱面透鏡組件和分光片到達(dá)濾光片構(gòu)成信號(hào)光光路，所述光源光路和信號(hào)光光路在柱面透鏡組件和分光片之間重疊。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單，設(shè)計(jì)合理，能有效縮短光路，減少光路元件，從而縮小整個(gè)檢測(cè)儀的體積，便于攜帶，保證整個(gè)檢測(cè)儀的可靠性，減少故障的發(fā)生幾率。專利說明一種層析卡檢測(cè)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。