技術編號：6044047
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明提供一種基于空時過采樣掃描的弱小點目標精確定位方法及系統(tǒng)，方法包括步驟構造M個線列探測器；掃描得到M組圖像，對掃描得到的圖像進行非均勻性校正，再按照時間和空間采樣周期將M組圖像鑲嵌為圖像F′并去除邊緣；去除圖像F中的隨機噪聲；對去噪后的圖像進行閾值濾波，得到二值化圖像F1；使用連通區(qū)域法尋找圖像F1中的弱小點目標區(qū)域；找出圖像F中對應的弱小點目標區(qū)域，采用一階矩的質心提取方法確定弱小點目標質心位置，以實現(xiàn)圖像F中對應弱小點目標的精確定位。實施本發(fā)明克...
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